为了能获得优质的三维质谱成像图,Winograd教授从质谱成像的根源进行了技术修订,质谱成像技术有一个基本技术,即SIMS(二次离子质谱,secondary ion mass spectrometry),这种质谱技术是表面分析的有利工具,能检测出微小区域内的微量成分,绝对检出限10-12-10-19g,相对检出限ppm-ppb,具有能进行杂质深度剖析和各种元素在微区范围内同位素丰度比的测量。
SIMS用于成像早在这种技术用于生物学研究的十年前就已经开始了,比如分析集成电路(integrated circuits)中的化学成分,这种技术具有几个优点:速度快(~10,000 spectra per second),亚细胞构造分辨率(~100 nm),以及不需要基质。另外一方面,不同于MALDI方法,SIMS方面不是一种“软”技术,这种方法只能对小分子成像,因此常常需要进行粉碎。